In modernen Elektronikfertigungen liefern In-Circuit-Tests (ICT), Funktionstests und Burn-In-Prüfungen täglich große Mengen an Messdaten. Laut SYS TEC electronic AG werden diese Daten jedoch überwiegend nur für die unmittelbare Pass-Fail-Entscheidung genutzt. Grenzwertabstände, Fehlermuster und zeitliche Verläufe der Messwerte bleiben dabei weitgehend ungenutzt – ein erhebliches Optimierungspotenzial bleibt so unerschlossen.
Der Ansatz von SYS TEC setzt früher an: Bereits in der LabVIEW-Testapplikation werden Prüfberichte strukturiert erzeugt und Messdaten konsequent historisiert. Erst diese strukturierte Datenbasis ermöglicht den Einsatz von KI-Methoden zur Erkennung von Drift, schleichenden Prozessveränderungen und Trendmustern über mehrere Produktionslose hinweg.
Für Fertigungsingenieure bedeutet das einen Paradigmenwechsel: Der Prüfplatz wird vom reinen Qualitätsfilter zur Datenquelle für kontinuierliche Prozessverbesserung. Voraussetzung ist eine durchgängige, strukturierte Testdatenhaltung als Grundlage für datengetriebene Analysen.
Quelle: SYS TEC electronic Presse – https://www.systec-electronic.com/blog/artikel/news-datengetriebene-teststrategien-ki-in-industriellen-pruef-und-testplaetzen
